仪器生产商: 日立
资产编号: SN201103070
资产负责人: 顾龚杰
购置日期: 2011-03-09
仪器价格: 0.00 万元
仪器产地: 日本
仪器供应商: ----
购买经办人: ----
主要配件: ----
主要参数: ----
仪器介绍:
主要用途:
该设备主要用于各种样品的高分辨表面形貌成像观察,点分辨率可达1 nm。同时该设备由于发射束流低并配备了减速装置,因此可以较大程度上减少样品在电子束轰击下的充电效应,适合于一些不导电样品和在电子束辐照下异损坏样品(有机、高分子、生物样品等)的表面高分辨成像 |